北京飞凯曼公司提供塞贝克热电效应测试仪系统。塞贝克效应是一种物理现象，即两种不同的导体材料或者半导体材料（如右图所示）之间的温度差异在接触时会产生电势差。当热量施加在两种导体或者半导体中的一个时，热电子流会从热端流向冷端。当这对材料通过电子回路连接时，直流电流（DC）就会从回路中流过。塞贝克效应产生的电压很小，通常在连接点每开氏温度只有几个微伏或几个毫伏。如果温度差足够大，一些塞贝克效应器件可以产生数毫伏甚至数千伏的电压。很多类似的器件可以串联起来增加输出电压或者并联起来增加Z大输出电流。 塞如果在节点处维持大的温度差，贝克效应器件组成的大型阵列可以提供非常有用的、小规模的电源。
特点和优势
我们的优势在于我们使用了Joule-Thomason热台作为温度控制装置，除此之外，MMR的塞贝克效应测试仪更多的优势体现在很多的科学应用上，包括：
♦ 塞贝克测试系统具有50 nVolt的分辨率
♦ 可测试的样品从金属到薄膜
♦ 高的测试精度和重复性
♦ 相对参考材料的自动运算
♦ 结构紧凑
♦ 宽的温度测试范围：70K 至 730K
♦ 可测试的样品范围广：包括单晶体、薄膜、线等
自动的热能测量提供如下好处：
♦ 连续的计算机控制的试验参数可产生接近恒定大小和周期的温度梯度。
♦ 密度的数量级增加的数据极容易获取
♦ 一致的数据简化了程序，对于每次测量非常有用
♦ 可以和霍尔效应测试仪公用平台，降低设备采购成本。
总之，这些因素使得MMR的塞贝克效应测试系统具有非常高的精度和测试重复性。
技术参数：
工作温度范围： 70K and 730K*
腔体尺寸： 宽度：2.5 in (6.35 cm)
长度：6.0 in (16.54 cm)
深度：1.45 in (3.7 cm) – 电子连接端
深度：1.45 in (3.7 cm) – 样品固定端
工作距离： 0.47 in (12 mm)
Z大热测量范围： +/- 50 nVolt
参考和测试通道的增益失配： < 0.1%
加热模块Z小功率步进： 0.1 mWatt (决定了通过样品的温度差异)
加热模块Z大功率步进： 900 mWatts
自动读数： Z大至128
参考材料： 铜镍合金-与待测样品相对
温度传感器： 铂电阻温度计
样品固定尺寸： 10 mm x 12 mm
样品长度： 2 mm to 10 mm(取决于固定方法)
控制器要求： MMR提供的可编程温度和塞贝克测量控制器
过滤干燥系统要求： 标准的过滤干燥系统或者可再生过滤干燥系统
气体要求： 99.998% 的高纯氮气或者氩气，至少1800 psi压力
真空要求： 不高于8 mTorr
产品应用
♦ 汽车和燃油
♦ 能源利用效率
♦ 替代能源领域
♦ 热电制冷
♦ 很多其他工业和研究领域-每年都会诞生新的应用领域
详细信息请联系我们。
