X荧光仪在金属矿地质勘查中的应用分析
来自 万方
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作者：
段琳俊
摘要：
便携式X荧光仪广泛应用在金属矿地质勘查中.X射线荧光是被分析样品在X射线照射下发出的X射线,包含的分析样品化学组成信息.X荧光仪已经成为勘查金属矿地质Z有效的手段之一,本文介绍了X荧光仪在金属矿地勘察中的工作原理及应用.
矿产勘探
投资商在勘探应用上的平均投资回报（ROI）时间一般为6个月。不同项目的投资回报时间会各不相同。奥林巴斯光谱仪具有以下性能：
在获得资产和达成交易的过程中，帮助用户做出适当审慎的决定。
在早期的地区勘察和绘制地图阶段，可对岩石、碎片、土壤、沉积物等样本进行化学成份的定性分析。
在勘探早期的转移地带性土壤和沉积物，犁地及挖沟的几个阶段中，采集定量性数据。
即时辨别矿化趋向及异常现象，定义钻孔目标，扩展土壤样本的勘察边界。
实时调整采样和绘图项目，使用勘探预算经费。
对样本进行预筛选，提高在现场以外的实验室检测的效率。
在具开发前途的地区提高采样的密度。
在钻孔阶段从土地中取出样本时，可以对空心、RAB、RC（反循环钻进样本）和钻石芯等样本进行分析。
在现场对镧（La）、铈（Ce）、镨（Pr）和钕（Nd）等稀 土元素，以及钇（Y）、钍（Th）和铌（Nb）等探途元素进行定量检测。
采矿及冶金处理
便携式矿石元素分析光谱仪可在现场即时得到地球化学分析的结果，从而大地提高了生产力。工作人员可以根据分析结果在现场立即做出决策。
在露天矿场对钻孔样本进行即时筛检，减少了对采矿实验室的依赖，从而在搬运矿石/废料方面提高了效率。
对储矿堆的现场分析有助于为工厂迅速配料和给料。
对于进料、精矿及尾料的实时分析，使得在处理厂内就可以对材料的配量随时进行调整。
在某些环境中，通过制定使用DELTA便携式矿石元素分析光谱仪的采样和分析方法，可以提高对地下矿石进行级别控制的能力。在世界上众多的地下矿场中，奥林巴斯光谱仪的矿石元素分析光谱仪 每天都在帮助矿产勘探人员做出正确的决定。
在矿场应用中，通常需要对具体的样本和基质进行特别校准。DELTA分析仪使用多种校准模型可以为方便地进行设置和操作，从而可保证在实际检测分析过程中发挥出佳性能，甚至在富于挑战性的轻元素（镁、铝、硅）分析中， 也能获得精准的数据。
Xplorer软件包
用于矿石元素分析光谱仪的移动式GPS-GIS映射成像解决方案
由国际采矿团的地质学家们开发的DELTA XRF-GPS- GIS Xplorer配置可使XRF与GIS的连接做到天衣无缝， 从而可快速找到目标，并实时做出正确的决策。
应用这个方案不仅为勘探地质学家节省了时间和成本，而且提高了数据整合性能，完善了数据的自动整合管理及 验证过程。其快速映射、显示、评价及跟踪目标的性能 真正地改善了对表面土壤/沉积物进行的地球化学勘探的方法。
在检测现场可以无线方式传输便携式矿石元素分析光谱仪中的数据，并通过符合工业标准的移动地理信息系统（Mobile GIS）和先进的Trimble GPS硬件与GIS软件
（ArcPAD或Discover Mobile），对这些数据进行实时空间记录。
可以在现场得到实时地球化学映射成像的结果，可以在GIS 中显示图像，并在图像中添加栅格和等高线，根据这些图像用户可以迅速做出正确的决定。
与强大的地球化学分析软件配合得天衣无缝，如：ioGAS， 可对数据进行高质量的验证，使检测工作达到质量保证/质量控制（QA/QC）的要求。
减少了在传输XRF数据、GPS坐标融合以及GIS整合过程中会出现的人为错误。
