OptiSpheric通用途光学测量仪(全自动数字测焦仪)

 
 
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更新 2020-12-24 19:22
 
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上海特彩机电设备有限公司

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  • 姚志国 (先生)  
详细说明

功能

EFL、BFL、FFL、轴上MTF、曲率半径等非接触式测量。

 

可扩展功能:

 

       • 人工晶体IOL(屈光度)    

      • 平面光学元件角度     

      • C-Lens(EFL)  

多波段测量能力     

透射或反射式中心偏差     

      • 非球面镜头中心偏差     

透镜中心厚度

光学系统空气间隔

 

性能:

测量范围: EFL: ±1-±2000mm

R: ±2-±400mm (标配,可扩展)

 

测量精度: EFL ±5-±25mm:0.1-0.3%

EFL ±25-±500mm:0.03%-0.1%   

EFL ±500-±2000mm:0.05%-0.3%

重复精度: 0.03-0.2%

 

 

详细指标:

标配:

 

产品型号

OptiSpheric® AF 250

OptiSpheric® AF 450

OptiSpheric® AF 1000

OptiSpheric® AF 1500

OptiSpheric® AF 2000

被测样品直径

3...35 mm

3...35 mm

3...75 mm

3...75 mm

3...75 mm

有效通光孔径

30mm

30mm

50mm

50mm

50mm

测量范围

EFL

+5... +250 mm

-5... -250 mm

+5... +500 mm

-5... -500 mm

+5... +1000 mm

-5... -1000 mm

+5... +1500 mm

-5... -1200 mm

+5... +2000 mm

-5... -2000 mm

MTF

5...50 mm EFL

5...50 mm EFL

5...100 mm EFL

5...100 mm EFL

5...100 mm EFL

BFL

5...200 mm

5...350 mm

5...500 mm

5...700 mm

5...1000 mm

R

5...200 mm

5...350 mm

5...500 mm

5...700 mm

5...1000 mm

测量精度

EFL

5...25mm: 0.1...0.3%

25...500mm: 0.03...0.1%

500...2000mm: 0.05...0.3%

MTF

±0.02

BFL

0.05...0.3%

R

0.05...0.3%

重复精度

EFL

0.03...0.2%

MTF

±0.01

BFL

0.03...0.2%

R

0.03...0.2%

 

扩展:

 

中心偏差测量

中心偏差测量

OptiSpheric® AF 250

OptiSpheric® AF 450

OptiSpheric® AF 1000

OptiSpheric® AF 1500

OptiSpheric® AF 2000

测量范围(R/EFL)

+5... +250 mm

-5... -250 mm

+5... +350 mm

-5... -350 mm

+5... +500 mm

-5... -500 mm

+5... +500 mm

-5... -500 mm

+5... +500 mm

-5... -500 mm

扩展范围(R/EFL)

±2000mm

测量精度

±2″ 或 ±0.2μm

重复精度

±1″ 或 ±0.1μm

平面光学元件角度测量

角度测量

OptiSpheric® AF 250

OptiSpheric® AF 450

OptiSpheric® AF 1000

OptiSpheric® AF 1500

OptiSpheric® AF 2000

测量精度

±1.3″

重复精度

±0.2″

分辨率

0.01″

光学系统空气间隔测量

空气间隔

OptiSpheric® AF 250

OptiSpheric® AF 450

OptiSpheric® AF 1000

OptiSpheric® AF 1500

OptiSpheric® AF 2000

测量范围:

400mm / 600mm / 800mm光程可选

200mm / 400mm / 600mm / 800mm光程可选

测量精度:

±1µm

±0.15µm或±0.5µm

测量速度:

1.5秒/10mm光程

测量波长:

1310 nm

 

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