产品特点：
● Z新一代非接触式蓝光/白光扫描技术;
● 独立开发的光栅及控制系统，支持蓝光和白光两种系统，使用时可根据扫描工件表面需求调整；
● 测量速度更快：更好的实时动态性，单幅扫描速度可达0.4秒；
● 双相机采用严格硬件同步机制，测量数据更加清晰；
● 测量精度高，采用公司自身专利技术，测量精度可达0.02mm~0.05mm；
● 强大的细节分辨能力，可分辨小到头发丝的物体；
● 多种拼接方式并存：可以支持不贴标记点自动拼接（特征拼接）、标记点拼接和框架拼接（兼容摄影测量系统，可对超大物体进行扫描）方式；
● 一机多用，多种扫描规格，可适用小到几毫米大到几米的物体扫描；
● 适用范围广,可适用不同材质，刚柔性物体扫描；
● 测量输出数据接口丰富：测量所得的点云数据为ASC、STL、PLY、IGES、OBJ、DXF等, 兼容市面上通用的3D软件；
● 操作简单：无需过多的培训即可以熟练操作；
● 对环境要求低：正常办公环境下工作；
技术参数
| 型号 | RY-S200 | RY-S400 | RY-S800 |
| 扫描方式 | 非接触式蓝光/白光面扫描 | ||
| 单幅扫描范围(mm2 ) | 100×75～200×150 | 200×150～400×300 | 400×300~800x600 |
| Z大测量范围(mm3 ) | 1000×750×750 | 2000×1500×1500 | 4000×3000×3000 |
| 测量精度(mm) | 0.015~0.05 | 0.015～0.05 | 0.02～0.05 |
| 单幅扫描点数(像素) | 1,300,000×2(可选配200万，300万或500万） | ||
| 单幅扫描速度 | <1.5S | ||
| 平均点距(mm) | 0.05～0.15 | 0.15～0.3 | 0.3～0.6 |
| 输出文件格式 | ASC, STL, IGES, VRML, DXF等 | ||
| 拼接方式 | 特征拼接/标记点拼接/框架拼接 | ||
| 操作系统 | Windows2000 / XP /win7 32及64位系统 | ||
联系电话：0755-86131192
联系qq：896591884
网站：www.3doe.com www.3doe.com.cn
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