雷达料位计

 
 
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更新 2019-11-28 09:25
 
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中高恒业科技(北京)有限公司

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  • 郭广军 (先生)  
详细说明

特性与优势:
无盲区,高精度
两线制技术,是差压仪表、磁致伸缩、射频导纳、磁翻板仪表的优良替代产品。
不受压力变化、真空、温度变化、惰性气体、烟尘、蒸汽等环境影响
安装简便,牢固耐用,免维护
HART或PROFIBUS-PA通信协议及基金会现场总线协议,标定简便、通过数字液晶显示轻松实现现场标定操作,通过软件GDPF实现简单的组态设定和编程
测量灵敏,刷新速度快。
适用于高温工况,高达200℃过程温度,当采用高温延长天线时可达350℃

测量原理
雷达物位计天线发出微波脉冲,在被测物料表面产生反射,并被雷达系统所接收。

输入
天线接收反射的微波脉冲并将其传输给电子线路,微处理器对此信号进行处理,识别出微波脉冲在物料表面所产生的回波。正确的回波信号识别由智能软件完成,精度可达到毫米级。距离物料表面的距离D与脉冲的时间行程T成正比:
D=C×T/2
其中C为光速
因空罐的距离E已知,则物位L为:
L=E-D

输出
通过输入空罐高度E(=零点),满罐高度F(=满量程)及一些应用参数来设定,应用参数将自动使仪表适应测量环境。对应于4-20mA输出。
测量盲区
盲区(BD)是从测量参考点到Z高物位时的介质表面的Z小距离。

盲区
GDPULS61
GDPULS62
GDPULS63/GDPULS64

从法兰开始
天线长度

(参见尺寸图)
天线长度

(参见尺寸图)
喇叭长度

(参见尺寸图)


测量条件
注意事项
测量范围从波束触及罐低的那一点开始计算,但在特殊情况下,若罐低为凹型或锥形,当物位低于此点时无法进行测量。
若介质为低介电常数当其处于低液位时,罐低可见,此时为保证测量精度,建议将零点定在低高度为C 的位置。
理论上测量达到天线尖端的位置是可能的,但是考虑到腐蚀及粘附的影响,测量范围的终值应距离天线的尖端至少50mm。
对于过溢保护,可定义一段安全距离附加在盲区上。
Z小测量范围与天线有关。
随浓度不同,泡沫既可以吸收微波,又可以将其反射,但在一定的条件下是可以进行测量的。

测量范围超出的动作
当测量范围超出时,仪表输出为22mA电流。
电气连接
两线制
HART通信的Z小负载:250Ω
电缆入口:M20×1.5
内设极性反接,射频干扰,及尖峰过压的保护电路。

调试
 

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